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    RinSaTex - HDS 跳扩频综合测试仪

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    RinSaTex - HDS 跳扩频综合测试仪

    高集成度、高跳速、抗干扰能力强、RinSaTex-HDS 跳扩频综合测试仪是针对信息数据传输的实时性、保密性、可靠性、吞吐量、抗干扰等需求，经过系统架构优化和小型化设计，具有高集成度、高跳速、强抗干扰能力的跳扩频测试设备，可以满足于跳扩频系统在信号体制验证、设备研制、分系统测试、集成装配、外场检验等各阶段测试需求。


    •        RinSaTex-HDS 跳扩频综合测试仪是针对信息数据传输的实时性、保密性、可靠性、吞吐量、抗干扰等需求，经过系统架构优化和小型化设计，具有高集成度、高跳速、强抗干扰能力的跳扩频测试设备，可以满足于跳扩频系统在信号体制验证、设备研制、分系统测试、集成装配、外场检验等各阶段测试需求。
             RinSaTex-HDS 跳扩频综合测试仪基于软件无线电平台，采用超大规模FPGA 芯片、高速ADC 芯片、高速DAC 芯片，应用直接数字合成DDS 技术、跳扩频信号快速捕获技术、跳扩频信号跟踪技术，实现了可达80000 hop/s 的跳频速率、超过100MHz 的工作带宽、高于100kbps 的信息传输速率，满足跳扩频通信系统的需求，可以支持多种型号任务的测试。
       
             【典型应用】
             ☆信号体制仿真验证 
             ☆设备研制 
             ☆系统验证
             ☆系统测试与训练
       
       
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